Apparaat voor lage temperaturen, vaak gebruikt in laboratoria

Veelgebruikte apparaten voor lage temperaturen in laboratoria bieden klanten een testbasis voor het voorspellen en verbeteren van de productkwaliteit en het bereiken van betrouwbaarheid. Door het testen van deze apparatuur kunnen de veranderingen in uitgebreide prestatie- en technische indicatoren van verschillende monsters onder vastgestelde kunstmatige gesimuleerde omgevingsomstandigheden worden geëvalueerd.

Selecteerbaar testtemperatuurbereik:

A: 0℃~+150℃.

B: -20℃～+150℃.

C: -40℃ ~ +150℃.

D: -70℃～+150℃.

Vochtigheidsbereik: 20%~98%R.H. Kan worden aangepast tot 10-98﹪R.H volgens de vereisten (niet-standaard vereisten).

De kleurentouchscreencontroller heeft een grote bewerkingscapaciteit, kan 120 groepen en 1200 segmenten opslaan en kan rechtstreeks op de computer worden aangesloten om rapporten te maken en de temperatuur te observeren en vochtigheidscurven, en de instellingen zijn gebruiksvriendelijk.

Veelgebruikte cryogene apparaten in laboratoriaUitvoerende normen:

Elektronische elektricien GB /T2423, testnormen voor hoge en lage temperaturen, vochtigheid en warmte.

GB/T2423.1-2008 Milieutesten voor elektrische en elektronische producten deel 2: Testmethode Test A: Lage temperatuur.

GB/T2423.3-2006 Milieutesten van elektrische en elektronische producten deel 2: Testmethode testcabine: test bij constante vochtige hitte.

GB/T2423.2-2008 Milieutesten voor elektrische en elektronische producten deel 2: Testmethode Test B:.

GB/T2423.4-2008 Milieutesten voor elektrische en elektronische producten Deel 2: Testmethode Test Db Wisselende vochtige hitte (12 uur+12h cyclus).

IEC68-2-1 (GB2423.1-2001), GJB150.3-86, GB2424.2-1993, GB/T5170.2-1996.

Klanten met de bovenstaande specificaties en modellen van kamers met constante temperatuur en vochtigheid en testkamers met constante temperatuur en vochtigheid of klanten met niet-standaard eisen kunnen contact opnemen met de directe verkoopfabrikant Dongguan QINSUN Testing Instrument Co., Ltd. voor overleg.

p>