النشرة الإخبارية inlooptemperatuur en vochtigheidsruimte

Inlooptemperatuur en vochtigheidsruimteHet wordt veel gebruikt in producten op het gebied van vermogenselektronica, computers, communicatie, enz. (zoals complete computers , monitoren, terminals, auto's, enz. Testen van temperatuur en vochtigheid van elektronische producten, voedingen, moederborden, monitoren, schakelende opladers, enz.).

Inlooptemperatuur en vochtigheid kamerUitvoeringsnormen:

NL / T 5170.2-2008 Temperatuurtestapparatuur

GB/T 5170.5-2008 Vochtige hittetestapparatuur

GB/ T2423.2-2008 (IEC60068-2-2:2007) Testmethode bij hoge temperatuur Bb

GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1) Lage temperatuur testmethode: test A

GJB150.3-1986 Test op hoge temperatuur

GB/T2423.3 -2006(IEC60068-2-78:2007) Testmethode voor constante vochtige hitte Cabine

GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) Wisselend testmethode voor vochtige hitte Db

GJB150.3 (ML-STD0-810D) Testmethode voor hoge temperaturen

GJB150.4 (MIL-STD-810D) Testmethode bij lage temperatuur

GJB150.9-1986 Testmethode voor apparatuur: vochtige hittetest

GJB4.5-1983 Milieutest van elektronische maritieme apparatuur, test bij constante vochtige hitte

GJB4.6-1983 Milieutest van elektronische maritieme apparatuur, test met wisselende vochtige hitte

GJB367.2-1987 Algemene technische voorwaarden voor communicatieapparatuur Milieutestmethode 411 Vochtige hittetest

GJB360.8-87 (MIL-STD-202f) Levensduur bij hoge temperaturen Test

GB10592-2006 Technische omstandigheden voor testkamers met hoge en lage temperaturen

GB/T10589 -2008 Technische voorwaarden voor testkamers met lage temperatuur

GB/T10586-2006 Technische voorwaarden voor testkamers met vochtige hitte

GJB150.9-1986 Vochtige hittetest

(De belasting per kubieke meter bedraagt ​​niet meer dan 35 kg/m3 warmtecapaciteit, er is geen actief vocht en warmte belasting tijdens de vocht- en hittetest)