Temperatuurtestmachine voor snelle temperatuurveranderingen

Testmachine voor snelle temperatuurveranderingOp grote schaal gebruikt in: chips, micro-elektronische apparaten, geïntegreerde schakelingen, flashgeheugen, sensoren, kleine modulecomponenten, optische communicatie, Prestatieanalyse van nieuwe materialen in de ruimtevaart, temperatuurveranderingstest bij hoge en lage temperatuur, foutanalyse en andere betrouwbaarheidstests.

De snelle temperatuurveranderingstest wordt gebruikt om te bepalen of het product snel of langzaam verandert bij hoge of lage temperaturen Het aanpassingsvermogen van opslag, transport en gebruik in een bepaalde klimaatomgeving. Het testproces is een cyclus van normale temperatuur → lage temperatuur → lage temperatuur dwell → hoge temperatuur → hoge temperatuur dwell → normale temperatuur.De ernst van de temperatuurcyclustest wordt bepaald door het hoge (lage) temperatuurbereik, de verblijftijd en het aantal cycli.

De testmethode van de cyclustestmachine met snelle temperatuurverandering:

GB/T 10589-2008 Technische voorwaarden voor testkamer bij lage temperatuur

GB/T 10592- 2008 Technische voorwaarden voor hoge en lage temperatuur testkamer

GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1 lage temperatuur testmethode

GB/T 2423.2- 2008/IEC 60068 - 2-2 Hoge temperatuur testmethode

GB/T 2423.3- 2008/IEC 60068- 2 -78 Constante vochtige hittetestmethode

GB/T 2423.4- -2008/IEC 60068 2- 30 alternerende vochtige hittetestmethode

GB/T 2423.22- 2008/IEC 60068- 2- 14 Temperature Change Rate Test Method

GJB 150.3A- 2009 High Temperature Test Method

GJB 150.4 A-2009 lage temperatuur testmethode

GJB 150.9A-2009 vochtige hitte testmethode

GB/T 5170.2- 2008 Elektrische en elektronische producten Milieutestapparatuur Inspectiemethode Temperatuurtestapparatuur