Experimentele hoge en lage temperatuur box

Experimentele doos voor hoge en lage temperaturenHet wordt vaak gebruikt in de lucht- en ruimtevaart, defensie-industrie, auto-onderdelen, plastic chemische industrie, optische vezels, precisie-inductor, kristal, Elektronische componenten van PCB's, LED's, LCD's, de voedingsindustrie, de farmaceutische industrie, computerrandapparatuur voor halfgeleiders en aanverwant productonderzoek en -ontwikkeling, technische testspecificaties voor kwaliteitsbeheer.

Experimentele hoge en lage temperatuur boxTechnische parameters:

model

LQ-GD-80 serie

LQ-GD-100 serie

LQ-GD-200 serie

LQ-GD-500 serie

LQ-GD-800 serie

LQ-GD-1000 serie

Intern volume

80L

100L

200L

500L

800L

1000L

Interne maat (cm)

40×40×50

40×45×58

50×50×70

70×80×90

80×100×100

100×100×100

Seks

Kan

gebalanceerd temperatuur- en vochtigheidscontrolesysteem (BTHC-systeem)

Temperatuurbereik

0～+150℃ / -20～+150℃ / - 40～+150℃ / -70～+150℃

Temperatuurschommeling

≤± 0.5 ℃

Temperatuuruniformiteit

≤ 2 ℃<

Verwarming en verwarmingssnelheid:

RT<----->150℃ gedurende ongeveer 35 minuten (niet-lineair onbelast, ongeveer 3,0℃/min).

RT<----->-20℃ gedurende ongeveer 45 minuten (niet-lineair onbelast, ongeveer 1,0℃/min).

Het kan aan de volgende normen voldoen:

GB2423.2-2008(IEC68-2-2 ) test B: testmethode bij hoge temperatuur GB2423.1-2008 (IEC68-2-1) test A: testmethode bij lage temperatuur GB2423.22-2008 (IEC68-2-14) test NB: testmethode temperatuurcyclus. GB2423.3-2006 (IEC68-2-3) test CA: GJB150.3A-2009 (MIL-STD-810D) testmethode op hoge temperatuur. GJB150.4A-2009 (MIL-STD-810D) lage temperatuur testmethode;