Inlooptemperatuur en vochtigheidsruimteHet wordt veel gebruikt in producten op het gebied van vermogenselektronica, computers, communicatie, enz. (zoals complete computers , monitoren, terminals, auto's, enz. Testen van temperatuur en vochtigheid van elektronische producten, voedingen, moederborden, monitoren, schakelende opladers, enz.).
Inlooptemperatuur en vochtigheid kamerUitvoeringsnormen:
NL / T 5170.2-2008 Temperatuurtestapparatuur
GB/T 5170.5-2008 Vochtige hittetestapparatuur
GB/ T2423.2-2008 (IEC60068-2-2:2007) Testmethode bij hoge temperatuur Bb
GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1) Lage temperatuur testmethode: test A
GJB150.3-1986 Test op hoge temperatuur
GB/T2423.3 -2006(IEC60068-2-78:2007) Testmethode voor constante vochtige hitte Cabine
GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) Wisselend testmethode voor vochtige hitte Db< /p>
GJB150.3 (ML-STD0-810D) Testmethode voor hoge temperaturen
GJB150.4 (MIL-STD-810D) Testmethode bij lage temperatuur
GJB150.9-1986 Testmethode voor apparatuur: vochtige hittetest
GJB4.5-1983 Milieutest van elektronische maritieme apparatuur, test bij constante vochtige hitte
GJB4.6-1983 Milieutest van elektronische maritieme apparatuur, test met wisselende vochtige hitte
GJB367.2-1987 Communicatieapparatuur Algemene technische omstandigheden Omgevingstestmethode 411 Vochtige hittetest
GJB360.8-87(MIL-STD-202f) Levensduurtest bij hoge temperaturen
GB10592-2006 Technische voorwaarden voor testkamers met hoge en lage temperaturen
GB/T10589-2008 Technisch omstandigheden voor testkamers met lage temperatuur < /p>
(De belasting per kubieke meter is niet meer dan 35kg/m3 warmtecapaciteit, geen actieve vocht- en warmtebelasting tijdens de vochtige hittetest)
You can Send Message or email info@qinsun-lab.com to us, we will reply tu you within 24 hours.Now tell us your need,there will be more favorable prices!
Home |
Product |
About |
Contact
Email: info@qinsun-lab.com
No. 2578 Gu Dai Road, Shanghai
Copyright © 2021.Qinsun Instruments Co., Ltd. All rights reserved.Sitemap