Inlooptemperatuur- en vochtigheidsruimte

Inlooptemperatuur en vochtigheidsruimteOp grote schaal gebruikt in vermogenselektronica, computers, communicatie en andere producten (zoals: complete computer, monitor, terminal, auto Gebruik elektronische producten, voedingen, moederborden, monitoren, schakelladers, enz.) om de temperatuur- en vochtigheidsomgeving te testen.

Inlooptemperatuur en vochtigheid kamerUitvoeringsnorm:

NL / T 5170.2-2008 Temperatuurtestapparatuur

GB/T 5170.5-2008 Vochtige hittetestapparatuur

GB/T2423.2-2008 (IEC60068-2-2:2007) testmethode op hoge temperatuur Bb

GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1) lage temperatuur testmethode: test A

GJB150.3-1986 test op hoge temperatuur

GB/T2423.3 -2006(IEC60068-2-78:2007) Testmethode voor constante vochtige hitte Cabine

GB/T2423.4-2008(IEC60068-2-30:2005) Afwisselend Testmethode voor vochtige hitte Db< /p>

GJB150.3(ML-STD0-810D) testmethode voor hoge temperaturen

GJB150.4(MIL-STD-810D) Testmethode bij lage temperatuur

GJB150.9-1986 Testmethode voor apparatuuromgeving: vochtige hittetest

GJB4.5-1983 Milieutest van elektronische maritieme apparatuur, test bij constante vochtige hitte

GJB4.6-1983 Milieutest van elektronische maritieme apparatuur, test met wisselende vochtige hitte

GJB367.2-1987 Communicatieapparatuur Algemene technische omstandigheden Omgevingstestmethode 411 Vochtige hittetest

GJB360.8-87(MIL-STD-202f) Levensduurtest bij hoge temperaturen

GB10592-2006 Technische voorwaarden voor testkamers met hoge en lage temperaturen

GB/T10589-2008 Technisch omstandigheden voor testkamers met lage temperatuur < /p>

(De belasting per kubieke meter is niet meer dan 35kg/m3 warmtecapaciteit, geen actieve vocht- en warmtebelasting tijdens de vochtige hittetest)