Walk-in grote testkamer voor vochtige hitte

De grote testkamer voor vochtige hitte wordt gekenmerkt door de mogelijkheid om meerdere testcondities in meerdere programma's te programmeren zodat ze handmatige instructies kunnen volgen Constante cyclus temperatuur- en vochtigheidstest. Het is geschikt voor de aanpassingstest van elektrische apparaten, elektrotechniek, elektronica, opto-elektronica, communicatie, instrumentatie en andere industriële producten, reserveonderdelen en materialen tijdens gebruik, productie, opslag en transport in een omgeving met afwisselend hoge temperaturen en hoge luchtvochtigheid.

Walk-in grootschalige testkamer voor vochtige hitteTechnische parameters:

Temperatuurbereik optioneel: A : 0 ℃ ~ 150 ℃; B: -20 ℃ ~ 150 ℃; C: -40 ℃ ~ 150 ℃/; D: -70 ℃ ~ 150 ℃ (kan willekeurig worden aangepast).

Vochtigheidsbereik: 20%~98%RH (industriestandaard type).

Verwarming en verwarmingssnelheid:

RT<----->150℃ voor ongeveer 35 minuten (niet-lineair onbelast, ongeveer 3,0°C/min).

RT<----->-20℃ gedurende ongeveer 45 minuten (niet-lineair onbelast, ongeveer 1,0℃/min).

Analysenauwkeurigheid: 0,01℃.

Controle nauwkeurigheid: ≤±0.5℃.

Uniformiteit: ≦2.0℃.

Het kan aan de volgende normen voldoen:

GB2423.2-2008(IEC68-2-2 ) test B: testmethode op hoge temperatuur GB2423.1-2008 (IEC68-2-1) test A: testmethode lage temperatuur GB2423.22-2008 (IEC68-2-14) test NB: testmethode temperatuurcyclus. NL2423.3-2006 (IEC68-2-3) test CA: constant vochtige hitte testmethode GB2423.4-2008 (IEC68-2-30) test CB: alternerende vochtige hitte testmethode GJB150.3A-2009 (MIL-STD-810D ) Testmethode op hoge temperatuur. GJB150.4A-2009 (MIL-STD-810D) lage temperatuur testmethode GJB150.9A-2009 (MIL-STD-810D) vochtige hitte testmethode.