Testmachine voor snelle temperatuurveranderingOp grote schaal gebruikt in: chips, micro-elektronische apparaten, geïntegreerde schakelingen, flashgeheugen, sensoren, kleine modulecomponenten, optische communicatie, Prestatieanalyse van nieuwe materialen in de ruimtevaart, temperatuurveranderingstest bij hoge en lage temperatuur, foutanalyse en andere betrouwbaarheidstests.
De snelle temperatuurveranderingstest wordt gebruikt om te bepalen of het product snel of langzaam verandert bij hoge of lage temperaturen Het aanpassingsvermogen van opslag, transport en gebruik in een bepaalde klimaatomgeving. Het testproces is een cyclus van normale temperatuur → lage temperatuur → lage temperatuur dwell → hoge temperatuur → hoge temperatuur dwell → normale temperatuur.De ernst van de temperatuurcyclustest wordt bepaald door het hoge (lage) temperatuurbereik, de verblijftijd en het aantal cycli.
De testmethode van de cyclustestmachine met snelle temperatuurverandering:
GB/T 10589-2008 Technische voorwaarden voor testkamer bij lage temperatuur
GB/T 10592- 2008 Technische voorwaarden voor hoge en lage temperatuur testkamer
GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1 lage temperatuur testmethode
GB/T 2423.2- 2008/IEC 60068 - 2-2 Hoge temperatuur testmethode
GB/T 2423.3- 2008/IEC 60068- 2 -78 Constante vochtige hittetestmethode
GB/T 2423.4- -2008/IEC 60068 2- 30 alternerende vochtige hittetestmethode
GB/T 2423.22- 2008/IEC 60068- 2- 14 Temperature Change Rate Test Method
GJB 150.3A- 2009 High Temperature Test Method
GJB 150.4 A-2009 lage temperatuur testmethode
GJB 150.9A-2009 vochtige hitte testmethode
GB/T 5170.2- 2008 Elektrische en elektronische producten Milieutestapparatuur Inspectiemethode Temperatuurtestapparatuur
You can Send Message or email info@qinsun-lab.com to us, we will reply tu you within 24 hours.Now tell us your need,there will be more favorable prices!
Home |
Product |
About |
Contact
Email: info@qinsun-lab.com
No. 2578 Gu Dai Road, Shanghai
Copyright © 2021.Qinsun Instruments Co., Ltd. All rights reserved.Sitemap