النشرة الإخبارية Testkamer voor constante temperatuur en vochtigheid van chip

Chip-testbox voor constante temperatuur en vochtigheid wordt vaak gebruikt in laboratoria van kleine, middelgrote en grote ondernemingen en fabrikanten voor testen, dus hij kan ook worden gebruikt voor uiterst nauwkeurige testbox voor constante temperatuur en vochtigheid. Nauwkeurigheid is hoe dicht een gemeten waarde bij de werkelijke waarde ligt. De zeer nauwkeurige kamer met constante temperatuur en vochtigheid zorgt ervoor dat de uniformiteit van de temperatuurverdeling van de testkamer zeer nauwkeurig is en kan voldoen aan de nauwkeurigheid die door de norm wordt vereist.

Afmetingen studiodoos breedte*hoogte*diepte (cm): 40*50*40; 50*50*40; 50*60*50; 50*75 * 60; 60*85*80; 100*100*800; 100*100*100.

De nauwkeurigheid van de temperatuuranalyse van dit type apparatuur is 0,01℃, de nauwkeurigheid van de vochtigheidsanalyse is 0,1%R.H, de nauwkeurigheid van de temperatuurregeling is ±0,2℃ en de vochtigheid de regelnauwkeurigheid is ±2%R.H., temperatuuruniformiteit is ±2℃, vochtigheidsuniformiteit is ≤±3%R.H (+2, -3%RH), temperatuurschommelingen zijn ±0,5℃, vochtigheidsschommelingen: ±2%, de bovenstaande zijn industriestandaardvereisten De nauwkeurigheidsindex van QINSUN-producten wordt gegarandeerd bereikt.

Chip-testkamer voor constante temperatuur en vochtigheidUitvoeringsstandaard:

Prestaties Index Het voldoet aan de vereisten van GB5170, 2, 3, 5, 6-2008 Basisparameterkalibratiemethoden voor omgevingstestapparatuur voor elektrische en elektronische producten Testapparatuur voor lage temperatuur, hoge temperatuur, constante vochtigheid en hitte, en wisselende vochtigheid en hitte .

GJB150.3 (ML-STD0-810D) testmethode bij hoge temperaturen.

GJB150.4 (MIL-STD-810D) testmethode bij lage temperatuur.

GJB150.9-1986 Milieutestmethode voor apparatuur: test voor vochtige hitte.

GJB4.5-1983 Constante vochtige hittetest voor milieutest van elektronische scheepsapparatuur.

Basisomgevingstestprocedures voor elektrische en elektronische producten Test A: Testmethode bij lage temperatuur GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1).

Basis milieutestprocedures voor elektrische en elektronische producten Test B: Testmethode bij hoge temperaturen GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2).

Basis milieutestprocedures voor elektrische en elektronische producten Test Ca: testmethode voor constante vochtige hitte GB/T 2423.3-2008 (IEC68-2-3).

Basis milieutestprocedures voor elektrische en elektronische producten Test Da: Testmethode voor wisselende vochtige hitte GB/T423.4-2008 (IEC68-2-30).